发明名称 | 薄膜温差电材料电阻率测试系统及方法 | ||
摘要 | 本发明涉及薄膜温差电材料电阻率测试系统及方法。采用全新的基于双电测四探针原理测试薄膜温差电材料电阻率的薄膜温差电材料电阻率测试仪,它由测试卡具和控制及测试电路系统构成。待测薄膜温差电材料试样放置在测试卡具内,测试卡具通过探针导线与控制及测试电路系统相连。控制及测试电路系统通过探针导线向测试卡具内的四个探针中的两个给出脉冲电流信号,并采集另外二个探针间的电压响应信号,同时将脉冲电流信号和电压响应信号输入微型计算机,在微型计算机的显示屏上实时显示出所测位置处薄膜温差电材料的电阻率。大大降低了探针间距以及探针尖横向游移对电阻率测试结果的影响,即使被测试片较小使探针位于试样边界附近时也不影响测试精度。 | ||
申请公布号 | CN101413972A | 申请公布日期 | 2009.04.22 |
申请号 | CN200810153570.9 | 申请日期 | 2008.11.27 |
申请人 | 天津大学 | 发明人 | 王为;李菲晖;李晋楼; |
分类号 | G01R27/02(2006.01)I;G01R27/08(2006.01)I | 主分类号 | G01R27/02(2006.01)I |
代理机构 | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 | 代理人 | 王 丽 |
主权项 | 1、一种薄膜温差电材料电阻率测试系统,其特征是采用双电测四探针测试薄膜温差电材料的电阻率的测试卡具和控制及测试电路系统组成。 | ||
地址 | 300072天津市南开区卫津路92号天津大学 |