自动测试方法及其自动测试装置

摘要

本发明为一种自动测试方法，用于一自动测试装置以测试电子装置的多个按键。该方法包括以下步骤：传送控制信号以导通第一缓冲器与第二缓冲器；藉由该第一缓冲器传送第一测试信号到该电子装置；藉由该第二缓冲器传送一第二测试信号到该电子装置；藉由该电子装置输出一正常的信号以代表该多个按键作用正常；以及使该第一缓冲器与该第二缓冲器断路。

主权项

1. 一种自动测试装置，用以测试一电子装置的多个按键，所述多个按键为一键盘矩阵的电路形式，所述自动测试装置包括：一微控制芯片；以及一按键连接电路，所述按键连接电路与所述微控制芯片及所述电子装置电性连接，所述按键连接电路包括：一第一缓冲器，所述第一缓冲器与所述多个按键电性连接；以及一第二缓冲器，所述第二缓冲器与所述多个按键电性连接，所述微控制芯片用以控制所述按键连接电路以达成以下机制：传送一控制信号以导通所述第一缓冲器与所述第二缓冲器；藉由所述第一缓冲器传送一第一测试信号到所述电子装置；藉由所述第二缓冲器传送一第二测试信号到所述电子装置；藉由所述电子装置输出一正常的信号以代表所述多个按键作用正常；以及使所述第一缓冲器与所述第二缓冲器断路。