发明名称 |
成像设备及其控制方法以及CMOS图像传感器 |
摘要 |
本发明提供了一种成像设备及其控制方法以及CMOS图像传感器。一种设置有读出电路的成像设备,其中光屏蔽区域被形成在其中多个光/电转换器件在行和列方向上被二维排列的图像区域的一部分中,读出设备将从用于每列的光/电转换器件中的每一个输出的光学探测信号转换为数字信号,该成像设备包括:存储设备,用于保存与光屏蔽区域中的光/电转换器件相关的被输出的数字信号;以及差计算设备,用于计算和除了光屏蔽区域之外的光接收区域中的光/电转换器件相关的被输出的数字信号与被保存在存储设备中的值之间的差。 |
申请公布号 |
CN101415072A |
申请公布日期 |
2009.04.22 |
申请号 |
CN200810165883.6 |
申请日期 |
2005.01.18 |
申请人 |
富士通株式会社 |
发明人 |
船越纯;山本克义;小久保朝生;水口寿孝;樋口刚 |
分类号 |
H04N5/217(2006.01)I;H04N5/335(2006.01)I |
主分类号 |
H04N5/217(2006.01)I |
代理机构 |
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 |
代理人 |
赵 飞;南 霆 |
主权项 |
1. 一种成像设备,其中光屏蔽区域被形成在其中多个光/电转换器件在行和列方向上被二维排列的图像区域的一部分中,所述成像设备设置有读出电路,所述读出电路将从用于每列的所述光/电转换器件中的每一个输出的光学探测信号转换为数字信号,所述成像设备包括:存储设备,用于保存多个偏移量,每个偏移量为与所述光屏蔽区域中的光/电转换器件相关的被输出的数字信号和参考值的差;和差计算设备,用于计算和光接收区域中的光/电转换器件相关的所述被输出的数字信号与从所述偏移量和所述参考值再现的原始数字信号之间的差,其中基于在所述光屏蔽区域中第一线的多个所述光/电转换器件相关的多个所述被输出的数字信号,检测所述参考值;通过使用所述光屏蔽区域中第二线的多个所述光/电转换器件中每一个相关的输出的所述被输出的数字信号,计算多个所述偏移量中的每一个;以及所述差计算设备通过使用所述光屏蔽区域中第三线的所述光/电转换器件相关的输出的所述被输出的数字信号计算所述差。 |
地址 |
日本神奈川县 |