电子材料与器件散粒噪声测试方法

摘要

本发明公开了一种电子材料与器件散粒噪声测试方法，解决现有散粒噪声测试方法准确性及可靠性差的问题。整个测试系统包括：低温装置、放大系统和数据采集与处理系统。其测试过程为：测试系统背景噪声S_c和被测样品电导G，确定被测样品的最小电流I及最高温度T；根据最小电流I及被测样品相关噪声测试标准优选m个测试电流点；将被测样品置于低温装置内的屏蔽样品室，选取m个测试电流点中最大电流值I′_max作为工作电流，进行样品噪声初测；计算1/f噪声转折频率f_C，确定放大系统和数据采集与处理系统相关参数；分别在m个测试电流点测试被测样品噪声时间序列和频谱，得到散粒噪声测试结果并生成测试报告。本发明具有测试精度、准确性高和测试系统灵活的优点。

主权项

1. 一种电子材料与器件散粒噪声测试方法，包括如下步骤：(1)测试系统背景噪声和被测样品的电导值，通过热噪声与散粒噪声公式联立求解，确定被测样品的最小电流I和最高温度T；(2)根据所确定的最小电流和最高温度，设置被测样品的工作电流I′(n)及测试温度T′，选取低温装置，n＝1，2，3...，将被测样品放置于所选取的低温装置屏蔽环境内；(3)根据设置的样品工作电流I′(n)，测试温度T′及低温装置对被测样品噪声特性进行初步测试，得到噪声功率谱密度S(f)；(4)根据电子器件噪声功率谱密度公式，计算1/f噪声转折频率fC，分别设置低噪声放大器的频率带宽和增益，以及数据采集与处理系统的采样频率和采样点数，使数据采集卡能够采集到散粒噪声；(5)通过数据采集与处理系统进行噪声信号时间序列采集和频谱转换，得到被测样品散粒噪声的时间序列图和频谱图；(6)打印测试报告。