发明名称 气体分析设备
摘要 本发明涉及气体分析设备(1),包括:容纳气体试样(“G”)的腔室(20),光发射装置(3),用于接收通过腔室反射的光的装置(4),用于计算的电子电路(5),电子电路可调整以通过光谱分析来分析和确定腔室(20)中以试样(“G”)存在的选择气体或混合气体的存在。所述腔室提供一或多个用于气体进出所述腔室的孔。所述腔室设置为稍微有点弯曲的形状,具有在所述光发射装置(3)和所述光接收装置(4)间延伸的至少一个凹曲的光反射表面(30b)。所述孔(30)定位于在所述光发射装置(3)和所述光接收装置(4)间的有限连续区域上,并且所述孔(30)设置有大小和长度范围,为腔室(20)中的试样(“G”)与另一种气体试样提供快速被动交换。
申请公布号 CN100480676C 申请公布日期 2009.04.22
申请号 CN03817591.6 申请日期 2003.07.21
申请人 森谢尔公司 发明人 汉斯·约兰·埃瓦尔德·马丁
分类号 G01N21/17(2006.01)I 主分类号 G01N21/17(2006.01)I
代理机构 永新专利商标代理有限公司 代理人 蔡洪贵
主权项 1. 一种气体分析设备,包括:适于容纳气体试样的腔室(20),光发射装置(3),用于接收通过腔室反射的光的光接收装置(4),电子电路(5),电子电路可调整使得能够通过光谱分析来分析和确定腔室(20)中作为气体试样(″G″)存在的选择的气体或混合气体的存在,腔室(20)中的表面(30a,30b,30c)提供光反射性能;此外,所述腔室露出一个或多个用于气体进出所述腔室的孔(30),腔室设置一个延伸的形状,使所述一个或多个孔定位在腔室中位于所述光发射装置(3)和所述光接收装置(4)之间,其特征在于:所述腔室(20)和/或腔室的一个光反射表面设置成稍微有点弯曲的形状,在所述光发射装置(3)和所述光接收装置(4)之间形成波导,所述一个孔(30)和/或多个孔延伸在所述光发射装置(3)和所述光接收装置(4)之间,并且所述孔(30)具有的尺寸和纵向范围可使腔室中的气体试样(“G”)与另一试样进行快速交换。
地址 瑞典代尔斯布