| 发明名称 | 呈色芯片分析仪的系统设定方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种呈色芯片分析仪的系统设定方法，可改变该分析仪的参数与测试条件，从而提升分析仪对于多种规格的呈色芯片的适用范围。使用本发明方法可通过读取射频识别标识卷标数据内的识别密码及授权次数，避免分析仪的设定状态被无意改变，另外，也能通过授权次数统计所检测的呈色芯片数量。本发明提供的呈色芯片分析仪的系统设定方法包含：从该射频识别标识卷标读取一识别密码、一授权次数以及关于该呈色芯片的规格与分析参数；根据该识别密码与授权次数，决定是否加载关于该呈色芯片的规格与分析参数；以及若加载关于该呈色芯片的规格与分析参数，则递减该授权次数，且基于该呈色芯片的规格与分析参数，分析该呈色芯片。 | ||
| 申请公布号 | CN101413879A | 申请公布日期 | 2009.04.22 |
| 申请号 | CN200710163648.0 | 申请日期 | 2007.10.17 |
| 申请人 | 开物科技股份有限公司 | 发明人 | 吴自强;庄建和;庄琮凯;王建华 |
| 分类号 | G01N21/25(2006.01)I;G01N33/50(2006.01)I;G06F9/00(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/25(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 | 代理人 | 马晶晶 |
| 主权项 | 1. 一种呈色芯片分析仪的系统设定方法，该呈色芯片分析仪用以检测一呈色芯片，其特征在于，包含以下步骤：读取一授权卷标的数据，该数据包含一识别密码、一授权次数以及关于该呈色芯片的规格与分析参数；根据该识别密码与授权次数，决定是否加载关于该呈色芯片的规格与分析参数；以及若加载关于该呈色芯片的规格与分析参数，则递减该授权次数，且基于该呈色芯片的规格与分析参数，分析该呈色芯片。 | ||
| 地址 | 台湾省台南县 | ||