发明名称 |
一种VDMOS器件 |
摘要 |
一种VDMOS器件,属于半导体功率器件技术领域。本发明在传统的VDMOS器件结构中引入一层掺杂层:对于N沟道VDMOS器件而言,该掺杂层为位于P型基区(5)和N<sup>-</sup>漂移区(6)之间的N<sup>+</sup>层(7);对于P沟道VDMOS器件而言,该掺杂层为位于N型基区(5′)和P<sup>-</sup>漂移区(6′)之间的P<sup>+</sup>层(7′)。与传统的VDMOS器件相比,本发明通过在基区和漂移区之间加入掺杂层,增大了电子流经的截面积,可获得较低的导通损耗,而且使得VDMOS固有体二极管的正向导通压降和反向恢复特性得到优化,在降低其正向导通压降的同时也使得反向恢复时间也有所减小;本发明提供的VDMOS器件还具有制造工艺相对简单,工艺难度较低的特点。相对于传统的VDMOS器件,本发明更易满足功率电子系统的应用要求。 |
申请公布号 |
CN101404292A |
申请公布日期 |
2009.04.08 |
申请号 |
CN200810046205.8 |
申请日期 |
2008.09.27 |
申请人 |
电子科技大学 |
发明人 |
李泽宏;连延杰;钱梦亮;张波 |
分类号 |
H01L29/78(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/78(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
1、一种N沟道VDMOS器件,包括栅极(1)、隔离介质(2)、源极(3)、N+源区(4)、P型基区(5)、N-漂移区(6)、N+衬底(8)和漏极(9),其特征在于,它还具有N+层(7),所述N+层(7)位于P型基区(5)和N-漂移区(6)之间。 |
地址 |
610054四川省成都市建设北路二段四号 |