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Verfahren zur optischen Erfassung einer beleuchteten Probe, wobei das Beleuchtungslicht in mindestens einer Ebene räumlich strukturiert auf die Probe trifft und mehrere Bilder von der Probe bei unterschiedlicher Lage der Struktur auf der Probe mittels eines Detektors aufgenommen werden, aus denen ein optisches Schnittbild und/oder ein Bild mit erhöhter Auflösung berechnet wird, dadurch gekennzeichnet, dass in Richtung der Probe in oder in der Nähe einer Objektivpupille oder einer zu ihr konjugierten Ebene ein Beugungsmuster erzeugt wird und diesem in oder in der Nähe der Objektivpupille oder einer zu ihr konjugierten Ebene eine strukturierte Phasenplatte mit Bereichen unterschiedlicher Phasenverzögerung zugeordnet wird, die bewegt wird, um für mindestens eine Beugungsordnung unterschiedliche Phasenlagen des Beleuchtungslichtes auf der Probe einzustellen, wobei vorteilhaft über eine verschiebliche Blende eine Auswahl von Beugungsordnungen erfolgt, die in oder in der Nähe der Objektivpupille oder einer zu ihr konjugierten Ebene angeordnet ist.
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