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Mit der Erfindung wird ein Verfahren zum Testen vorgestellt, das mit mindestens einem elektronischen Bauelement, das in einer elektronischen Baugruppe (2) integriert und durch spezifische Testfunktionen zur Variation von Betriebsbedingungen schaltungstechnisch erweitert ist, ausgeführt wird. Das erfindungsgemäße elektronische Bauelement ist in einer elektronischen Baugruppe (2) integriert und zur Variation von Betriebsbedingungen durch spezifische Testfunktionen schaltungstechnisch erweitert, so dass dieses elektronische Bauelement zur Durchführung eines Tests ausgebildet ist. Die Erfindung betrifft zudem ein Computerprogramm und ein Computerprogrammprodukt.
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