发明名称 Verfahren und Anordnung zur Ausgabe von Restfehlern einer an eine Punktemenge angepassten Funktion
摘要 Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Anordnung zur Ausgabe von Restfehlern (R) einer an eine Punktemenge angepassten Funktion (G). Im Stand der Technik werden die Restfehler zusätzlich zum Funktionsgraphen in einem separaten Graphen ausgegeben. Dabei kann ein Betrachter die Qualität der Anpassung der Funktion an die Datenpunkte schlecht erkennen. Mit einem verbesserten Verfahren beziehungsweise einer verbesserten Anordnung soll eine visuelle Beurteilung der Qualität der Anpassung einfach und genau möglich sein. Erfindungsgemäß werden der angepassten Funktion (G) oder den Datenpunkten (P) der Punktemenge abschnitts- oder punktweise visuelle Kodes in Abhängigkeit der Restfehler (R) zugeordnet und die angepasste Funktion (G) an einer Schnittstelle grafisch ausgegeben, wobei die angepasste Funktion (G) abschnitts- oder punktweise in Form der zugeordneten visuellen Kodes dargestellt wird. Die Erfindung wird vorzugsweise für die Rasterbildspektroskopie mit Laser-Scanning-Mikroskopen eingesetzt.
申请公布号 DE102007045666(A1) 申请公布日期 2009.04.02
申请号 DE200710045666 申请日期 2007.09.25
申请人 CARL ZEISS MICROIMAGING GMBH 发明人 HEIDKAMP, MARCUS;WAGNER-CONRAD, STEPHAN;WEISHART, KLAUS
分类号 G01D1/16;G01N21/64 主分类号 G01D1/16
代理机构 代理人
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