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Es ist eine Kurzkohärenz-Interferometeranordnung zur Messung mehrerer axial beabstandeter Bereiche (T1, T2) einer Probe (P), insbesondere des Auges (A), beschrieben, welche mindestens einen Meßstrahlengang, durch den mehrere Einzel-Meßstrahlen auf die Probe (P) fallen, und einen Referenzstrahlengang (R) aufweist, durch den ein Referenzstrahl läuft, mit dem die Einzel-Meßstrahlen (M1, M2) überlagert und zur Interferenz gebracht werden, wobei die Einzel-Meßstrahlen (M1, M2) beim Einfall auf die Probe (P) zueinander um ein Maß axial versetzt sind, das auf die axiale Beabstandung (d) abgestimmt ist, und die Interferometeranordnung (I) jeden Einzel-Meßstrahl (M1, M2) jeweils mit dem Referenzstrahl interferierend überlagert und auf einen dem jeweiligen Einzel-Meßstrahl zugeordneten Detektor (D1, D2, ..., DN) leitet, wobei die Einzel-Meßstrahlen (M1, M2, ..., MN) in der Überlagerung mit dem Referenzstrahl in einem Gemisch zusammengefaßt sind, in dem sie unterschiedliche Phasenlagen haben.
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