使用扇出／扇入矩阵之错误捕捉随机存取记忆体支援技术

摘要

根据本发明之一个实施例，提供一种用于由多个待测元件获得测试资料之方法及装置。根据一个实施例此项目的可经由下述方式达成，由一测试中的元件输出一测试信号用于并列输入至至少两个待测元件；并列输入该测试中的元件至少两个回应信号，各个回应信号系由该至少两个待测元件中之一者所产生；储存该等并列接收之回应信号于一储存元件；以及由该储存元件串列输出该等回应信号。