发明名称 半导体侦光元件及其制造方法
摘要 〔课题〕本发明的目的系发挥绝缘膜作为低反射膜所要的功能,并提供抑制暗电流的半导体侦光元件及其制造方法。〔解决手段〕包括绝缘膜形成步骤,在半导体上形成绝缘膜;以及电极形成步骤,在上述半导体应除去接触窗之处形成电极。上述电极形成步骤后,包括绝缘膜保护用光阻形成步骤,在上述绝缘膜上形成光阻。包括供电层形成步骤,在上述光阻及上述电极上,形成金属的供电层;电镀形成步骤,上述供电层形成步骤后,在相接上述电极的上述供电层上进行电镀形成;以及供电层蚀刻步骤,上述电镀形成步骤后,留下应成为上述电极的部分,蚀刻上述供电层。更包括绝缘膜保护用光阻除去步骤,在上述供电层蚀刻步骤后,除去上述光阻。
申请公布号 TW200915433 申请公布日期 2009.04.01
申请号 TW097106584 申请日期 2008.02.26
申请人 三菱电机股份有限公司 发明人 菊地真人武;中岛康雄;中岛美幸;佐久间仁
分类号 H01L21/328(2006.01);H01L31/105(2006.01) 主分类号 H01L21/328(2006.01)
代理机构 代理人 洪澄文
主权项
地址 日本