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经营范围
发明名称
研磨液及研磨方法
摘要
具有阻障层之半导体积体电路的平坦化步骤中,用于化学机械研磨之研磨液,其特征为含有(A)胶体矽石粒子、(B)亲水性之苯并三唑衍生物、(C)疏水性之苯并三唑衍生物及(D)氧化剂。
申请公布号
TW200915411
申请公布日期
2009.04.01
申请号
TW097128553
申请日期
2008.07.29
申请人
富士软片股份有限公司
发明人
上村哲也
分类号
H01L21/304(2006.01);C09K3/14(2006.01)
主分类号
H01L21/304(2006.01)
代理机构
代理人
何金涂;何秋远
主权项
地址
日本
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