发明名称 半导体可饱和吸收体及其制作方法
摘要 本发明系关于一种半导体可饱和吸收体,其包含一砷化铝镓铟(AlGaInAs)晶体形成于一基板上,且该砷化铝镓铟晶体具有一量子井/井障(QW/barrier)结构,其中该量子井/井障结构的能隙差(ΔEc)大于或等于50 meV。
申请公布号 TW200915687 申请公布日期 2009.04.01
申请号 TW096135552 申请日期 2007.09.21
申请人 黄凯风;陈永富 发明人 黄凯风;陈永富
分类号 H01S5/10(2006.01);H01L21/00(2006.01) 主分类号 H01S5/10(2006.01)
代理机构 代理人 蔡清福
主权项
地址 新竹市大学路1001号工六馆EF353室