发明名称 光学测量装置和异常探测方法
摘要 本发明公开了一种可以提高检测保护玻璃的污浊的精度的光学式测量装置。通过扫描信号的峰值的90%、50%、10%的大小的阈值分别得到测量对象物的尺寸的测量值Q<sub>90</sub>、Q<sub>50</sub>、Q<sub>10</sub>。判断测量值Q<sub>90</sub>和测量值Q<sub>50</sub>的差(即测量值的变化)是否大于等于预定的基准值。(b)~(d)表示大于等于基准值的情况,保护玻璃上存在污浊。(a)是小于基准值,没有污浊。接着,判断测量值Q<sub>50</sub>和测量值Q<sub>10</sub>的差是否大于等于预定的基准值。(c)表示大于等于该基准值的情况,保护玻璃上存在污浊。从而,使蜂鸣器鸣叫并点亮红色灯,警告操作者马上除去污浊。
申请公布号 CN100473943C 申请公布日期 2009.04.01
申请号 CN200510083649.5 申请日期 2005.07.13
申请人 三丰株式会社 发明人 高山泰治
分类号 G01B11/00(2006.01)I;G01B21/00(2006.01)I;G01N21/88(2006.01)I 主分类号 G01B11/00(2006.01)I
代理机构 北京市柳沈律师事务所 代理人 马 莹;邵亚丽
主权项 1. 一种光学式测量装置,其特征在于,包括:投光部件,通过基于从发光元件出射的光束的平行光束对测量对象物位于的扫描区域进行反复扫描;光接收元件,接收通过所述扫描区域的光束并输出扫描信号;二值化信号生成部件,构成为可用多个不同的阈值分别将所述扫描信号二值化,从而生成多个二值化信号;运算部件,基于所述二值化信号运算关于所述测量对象物的测量值;判断部件,对所述运算部件基于所述多个二值化信号的每一个运算的多个测量值进行比较,从而判断从所述发光元件到所述光接收元件为止的所述光束的光程上是否发生了异常;以及通知部件,在所述判断部件判断为所述异常发生时,通知该异常,所述二值化信号生成部件所使用的所述多个不同的阈值至少有三个,包含:第一阈值、比该第一阈值小的第二阈值、比该第二阈值小的第三阈值,所述判断部件执行关于由所述第一阈值得到的测量值和由所述第二阈值得到的测量值的差是否大于等于基准值的第一判断,同时执行关于由所述第二阈值得到的测量值和由所述第三阈值得到的测量值的差是否大于等于基准值的第二判断,所述通知部件在所述第一判断以及所述第二判断两者为肯定的情况下进行第一通知,在仅所述第一判断为肯定的情况下进行与所述第一通知不同的第二通知。
地址 日本神奈川县