发明名称 磁性记忆装置之制造方法及磁性记忆装置
摘要 本发明之课题是提供可以减小TMR元件之写入电流之变动,提高可靠度和小型化之磁性记忆装置。本发明之解决手段是包含有TMR元件之磁性记忆装置之制造方法,所具备之步骤包含有:形成下层布线层之步骤;在下层布线层上形成层间绝缘层之步骤;在层间绝缘层形成开口部之步骤,用来使下层布线层露出;以覆盖层间绝缘层和开口部内面之方式,形成障壁金属层之步骤;以埋入开口部之方式,在障壁金属层上形成金属层之步骤;研磨步骤,使用障壁金属层作为阻挡层,研磨除去障壁金属层上之金属层,形成包含埋入到开口部之金属层和障壁金属层之布线层;和元件制作步骤,在布线层上制作TMR元件。
申请公布号 TW200915430 申请公布日期 2009.04.01
申请号 TW097128577 申请日期 2008.07.29
申请人 瑞萨科技股份有限公司 发明人 上野修一;古田阳雄;松田亮史;福村达也;长谷川森;平野真也;千叶原宏幸;大下博史
分类号 H01L21/3205(2006.01);H01L43/08(2006.01);H01L27/22(2006.01) 主分类号 H01L21/3205(2006.01)
代理机构 代理人 赖经臣
主权项
地址 日本