发明名称 |
磁性记忆装置之制造方法及磁性记忆装置 |
摘要 |
本发明之课题是提供可以减小TMR元件之写入电流之变动,提高可靠度和小型化之磁性记忆装置。本发明之解决手段是包含有TMR元件之磁性记忆装置之制造方法,所具备之步骤包含有:形成下层布线层之步骤;在下层布线层上形成层间绝缘层之步骤;在层间绝缘层形成开口部之步骤,用来使下层布线层露出;以覆盖层间绝缘层和开口部内面之方式,形成障壁金属层之步骤;以埋入开口部之方式,在障壁金属层上形成金属层之步骤;研磨步骤,使用障壁金属层作为阻挡层,研磨除去障壁金属层上之金属层,形成包含埋入到开口部之金属层和障壁金属层之布线层;和元件制作步骤,在布线层上制作TMR元件。 |
申请公布号 |
TW200915430 |
申请公布日期 |
2009.04.01 |
申请号 |
TW097128577 |
申请日期 |
2008.07.29 |
申请人 |
瑞萨科技股份有限公司 |
发明人 |
上野修一;古田阳雄;松田亮史;福村达也;长谷川森;平野真也;千叶原宏幸;大下博史 |
分类号 |
H01L21/3205(2006.01);H01L43/08(2006.01);H01L27/22(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/3205(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
赖经臣 |
主权项 |
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地址 |
日本 |