| 发明名称 | 定量测量聚合物样品中痕量金属的方法 | ||
| 摘要 | 公开了一种定量测量(50)聚合物样品中痕量金属的方法，该方法使用X射线使存在于该聚合物样品中的金属发荧光并进行检测。将该聚合物样品研磨(10)成粉末并通过热和压力形成为薄膜(20)。然后使用能量色散X射线荧光光谱法对该薄膜进行分析(30)，并且将表示存在于该样品中的各种金属的量的数据(40)乘以由已表征的聚合物的测量所确定的一个或多个相关因子，该已表征的聚合物具有与该聚合物样品相似的组成并且支持该样品中的一系列金属浓度。 | ||
| 申请公布号 | CN101400305A | 申请公布日期 | 2009.04.01 |
| 申请号 | CN200780008395.8 | 申请日期 | 2007.02.09 |
| 申请人 | 摩托罗拉公司 | 发明人 | 迈克尔·里斯;艾拉那·施克 |
| 分类号 | A61B6/02(2006.01)I;G03C9/00(2006.01)I;G21K4/00(2006.01)I | 主分类号 | A61B6/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 穆德骏;陆锦华 |
| 主权项 | 1. 一种定量测量聚合物的聚合物样品中痕量金属的方法，包括：提供聚合物样品的身份；提供所述聚合物样品的薄膜；通过能量色散X射线荧光光谱法使得存在于所述聚合物样品中的金属发荧光并进行检测来分析所述薄膜；以及通过为所述聚合物唯一确定的校正曲线定量测量在已识别的聚合物样品的薄膜中检测到的金属的量。 | ||
| 地址 | 美国伊利诺伊州 | ||