插座基板上具有开关元件之测试装置

摘要

一种积体电路元件测试装置包含一基板本体上设有复数个阵列分布的测试插座，测试插座具有复数个导电元件用以提供至少一待测积体电路元件电性连接至基板本体，再藉由基板本体传递测试讯号至基板本体底部，其中，基板本体底部上，分别形成有复数组分别对应于前后批具有相同接脚规格但接脚电性不同之待测积体电路元件之测试电路，以及用于提供复数组测试电路彼此切换之至少一开关元件，藉由开关元件切换不同测试电路，故可于同一基板本体上进行测试，不需因待测积体电路元件之接脚电性不同而更换基板本体。