| 发明名称 | 对差分对的本征偏移进行补偿的电子电路 | ||
| 摘要 | 本发明涉及使用差分对(T1、T2)的模拟集成电子电路。提出了一种自动校正偏移电压的方法，该方法包括如下步骤：在与正常使用阶段不同的校准阶段期间使差分电路的输入端(V1、V2)短路，在该阶段中通过所述差分对的分支的输出电流的差来对电容器充电，将所述电容器的端子上的电压与至少一个阈值比较，在所述校准阶段之后的正常使用阶段期间，在存储器中保存所述比较的结果，在正常使用阶段中，根据存储器中保存的结果对位于差分对上游的跟随器级的电流源(SC1、SC2)进行校正。 | ||
| 申请公布号 | CN101395794A | 申请公布日期 | 2009.03.25 |
| 申请号 | CN200680052829.X | 申请日期 | 2006.12.12 |
| 申请人 | E2V半导体公司 | 发明人 | F·博尔;S·布吕埃尔 |
| 分类号 | H03F3/45(2006.01)I;H03M3/00(2006.01)I | 主分类号 | H03F3/45(2006.01)I |
| 代理机构 | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人 | 陈松涛;王 英 |
| 主权项 | 1、一种对包括差分对的差分集成电路的偏移电压进行自动校正的方法，在所述差分对的上游具有至少一个包括晶体管(Ts1、Ts2)和电流源(SC1、SC2)的跟随器级，所述方法包括如下步骤：-在与正常使用阶段不同的校准阶段期间消除所述差分电路的输入端上的差分电压，-在该阶段中，通过所述差分对的分支的输出电流的差来对电容器(C1、C2)充电，-将所述电容器的端子上的电压与至少一个阈值比较，-在所述校准阶段之后的正常使用阶段期间，在存储器中保存所述比较的结果，-根据存储器中保存的结果，在所述正常使用阶段中对所述电流源(SC1、SC2)施加校正。 | ||
| 地址 | 法国圣艾格夫 | ||