发明名称 相变化记忆体元件及其制造方法
摘要 一种相变化记忆体元件。一第二导电间隙壁位于一第一导电间隙壁下方。一相变化层,包括一第一部份和一第二部份,其中第一部份大体上平行第一和第二导电间隙壁。第二部份系位于第二导电间隙壁上,其中第二导电间隙壁经由相变化层之第二部份,电性连接第一导电间隙壁。
申请公布号 TW200913252 申请公布日期 2009.03.16
申请号 TW097114210 申请日期 2008.04.18
申请人 财团法人工业技术研究院;力晶半导体股份有限公司;南亚科技股份有限公司;茂德科技股份有限公司;华邦电子股份有限公司 发明人 陈达
分类号 H01L27/24(2006.01);H01L21/8239(2006.01);H01L45/00(2006.01) 主分类号 H01L27/24(2006.01)
代理机构 代理人 洪澄文;颜锦顺
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区研新三路4号