发明名称 晶圆再生方法及晶圆再生装置
摘要 本发明系对表面形成有其他物质层210之半导体晶圆200,除去该其他物质层210而进行再生的晶圆再生方法,其包含有:物理除去步骤,其将该其他物质层210物理性地除去;膜形成步骤,其系于藉由该物理除去步骤而除去了其他物质层210之面形成膜220;及乾式蚀刻步骤,其藉由电浆同时对藉由膜形成步骤所形成之膜220及半导体晶圆200进行蚀刻。
申请公布号 TW200913044 申请公布日期 2009.03.16
申请号 TW097133534 申请日期 2008.09.02
申请人 松下电器产业股份有限公司 发明人 置田尚吾;菅原岳;铃木宏之;宝珍隆三;广岛满
分类号 H01L21/304(2006.01);H01L21/20(2006.01);H01L21/3065(2006.01) 主分类号 H01L21/304(2006.01)
代理机构 代理人 何金涂;丁国隆
主权项
地址 日本