发明名称 分析微机电系统气密封装构造内气体之装置及方法
摘要 本发明提供一种分析微机电系统气密封装构造内气体之方法,系将一气体分析仪与真空腔体的第二开口连接,并将一长度可变的中空弹性件的第一端与真空腔体的第一开口连通,且让一尖锥体设于真空腔体内,使其尖锥延伸至弹性件内并朝向中空弹性件的第二端。将待测的微机电系统气密封装构造置于中空弹性件的第二端,并施加压力于待测的封装构造上,迫使中空弹性件收缩而使得待测的封装构造被刺穿而形成一破孔,藉此使待测的封装构造内的气体由该破孔泄漏出。最后藉由气体分析仪分析由待测的封装构造中泄漏至真空腔体内的气体成分。
申请公布号 TW200912315 申请公布日期 2009.03.16
申请号 TW096134168 申请日期 2007.09.13
申请人 日月光半导体制造股份有限公司 发明人 萧伟民
分类号 G01N7/02(2006.01);B81B7/00(2006.01) 主分类号 G01N7/02(2006.01)
代理机构 代理人 花瑞铭;金玉书
主权项
地址 高雄市楠梓加工出口区经三路26号