发明名称 | 利用氧化物硬遮罩蚀刻低介电常数材料之方法 | ||
摘要 | 说明一薄膜堆叠的图案化方法。本方法包含在基板上制备一薄膜堆叠,其中该薄膜堆叠包含形成于该基板上之含SiCOH层、一形成于含SiCOH层上之氧化矽(SiOx)层、及一形成于氧化矽层上之遮罩层。在该遮罩层中产生一图案。其后,遮罩层中的图案利用蚀刻制程转移至氧化矽层,接着移除遮罩层。氧化矽层中的图案利用乾式电浆蚀刻制程转移至含SiCOH层,该乾式电浆蚀刻制程系由包含NF#sB!3#eB!之处理组成物所形成。 | ||
申请公布号 | TW200913145 | 申请公布日期 | 2009.03.16 |
申请号 | TW097130316 | 申请日期 | 2008.08.08 |
申请人 | 东京威力科创股份有限公司 | 发明人 | 雅尼克 富赫皮耶 |
分类号 | H01L21/768(2006.01) | 主分类号 | H01L21/768(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 周良谋;周良吉 | |
主权项 | |||
地址 | 日本 |