发明名称 利用氧化物硬遮罩蚀刻低介电常数材料之方法
摘要 说明一薄膜堆叠的图案化方法。本方法包含在基板上制备一薄膜堆叠,其中该薄膜堆叠包含形成于该基板上之含SiCOH层、一形成于含SiCOH层上之氧化矽(SiOx)层、及一形成于氧化矽层上之遮罩层。在该遮罩层中产生一图案。其后,遮罩层中的图案利用蚀刻制程转移至氧化矽层,接着移除遮罩层。氧化矽层中的图案利用乾式电浆蚀刻制程转移至含SiCOH层,该乾式电浆蚀刻制程系由包含NF#sB!3#eB!之处理组成物所形成。
申请公布号 TW200913145 申请公布日期 2009.03.16
申请号 TW097130316 申请日期 2008.08.08
申请人 东京威力科创股份有限公司 发明人 雅尼克 富赫皮耶
分类号 H01L21/768(2006.01) 主分类号 H01L21/768(2006.01)
代理机构 代理人 周良谋;周良吉
主权项
地址 日本