发明名称 | 半导体元件的制造方法 | ||
摘要 | 一种半导体元件的制造方法。提供基底,其包括记忆胞区与周边电路区。基底上已依序形成有第一导体层与罩幕层。接着,移除部分之第一导体层、罩幕层及基底,以形成多个隔离结构,且记忆胞区之隔离结构的密度大于周边电路区之隔离结构的密度。然后,移除残留于记忆胞区之罩幕层。接着,图案化残留于周边电路区之罩幕层,以形成图案化罩幕层。图案化罩幕层的密度约等于记忆胞区之隔离结构的密度。之后,于基底上形成第二导体层。接着,进行平坦化制程,移除部分第二导体层,至暴露出隔离结构之表面。 | ||
申请公布号 | TW200913131 | 申请公布日期 | 2009.03.16 |
申请号 | TW096134027 | 申请日期 | 2007.09.12 |
申请人 | 力晶半导体股份有限公司 | 发明人 | 朱建隆;刘建宏 |
分类号 | H01L21/762(2006.01);H01L21/304(2006.01) | 主分类号 | H01L21/762(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 詹铭文;萧锡清 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区力行一路12号 |