发明名称 半导体元件的制造方法
摘要 一种半导体元件的制造方法。提供基底,其包括记忆胞区与周边电路区。基底上已依序形成有第一导体层与罩幕层。接着,移除部分之第一导体层、罩幕层及基底,以形成多个隔离结构,且记忆胞区之隔离结构的密度大于周边电路区之隔离结构的密度。然后,移除残留于记忆胞区之罩幕层。接着,图案化残留于周边电路区之罩幕层,以形成图案化罩幕层。图案化罩幕层的密度约等于记忆胞区之隔离结构的密度。之后,于基底上形成第二导体层。接着,进行平坦化制程,移除部分第二导体层,至暴露出隔离结构之表面。
申请公布号 TW200913131 申请公布日期 2009.03.16
申请号 TW096134027 申请日期 2007.09.12
申请人 力晶半导体股份有限公司 发明人 朱建隆;刘建宏
分类号 H01L21/762(2006.01);H01L21/304(2006.01) 主分类号 H01L21/762(2006.01)
代理机构 代理人 詹铭文;萧锡清
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行一路12号