| 发明名称 |
以制程覆盖评估测试运作速度中之ＩＣ晶片 |
| 摘要 |
本发明揭示评估IC晶片的方法、系统及程式产品。在一具体实施例中，本方法包括：对一完整IC晶片设计执行一统计静态时序分析(SSTA)；为一IC晶片建立运作速度测试(AFST)稳定路径，所建立的稳定路径代表IC晶片之AFST稳定路径的非综合清单；及基于所建立的稳定路径以SSTA延迟模型设定再次执行SSTA。计算制程覆盖以从SSTA执行进行评估；及基于制程覆盖评估特定IC晶片。 |
| 申请公布号 |
TW200912747 |
申请公布日期 |
2009.03.16 |
| 申请号 |
TW097112966 |
申请日期 |
2008.04.10 |
| 申请人 |
万国商业机器公司 |
发明人 |
艾瑞克Ａ 弗曼;盖瑞Ｄ 葛林西;彼得Ａ 哈拜特;维魁 依耶葛;大卫Ｅ 拉克齐;权德莫利 维斯文沃瑞亚;熊瑾珺;夫拉迪密尔 索洛托夫 |
| 分类号 |
G06F9/44(2006.01);G01R31/01(2006.01);G01R31/303(2006.01) |
主分类号 |
G06F9/44(2006.01) |
| 代理机构 |
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代理人 |
蔡玉玲 |
| 主权项 |
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| 地址 |
美国 |
