| 发明名称 |
SYSTEM UND VERFAHREN FÜR OPTIMIERTEN TEST UND KONFIGURATIONSDURCHSATZ ELEKTRONISCHER SCHALTUNGEN |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
AT423978(T) |
申请公布日期 |
2009.03.15 |
| 申请号 |
AT20040778902T |
申请日期 |
2004.07.22 |
| 申请人 |
INTELLITECH CORPORATION |
发明人 |
CLARK, CHRISTOPHER;RICCHETTI, MICHAEL |
| 分类号 |
G01R31/3185;G01R31/00;G01R31/28;G01R31/319;G06F17/00;H05K |
主分类号 |
G01R31/3185 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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