发明名称 栅极具有不同功函数的双栅极半导体器件及其制造方法
摘要 本发明提供一种双栅极FinFET及其制造方法。所述FinFET包括鳍状物(20)的相邻各个边的第一和第二栅极(72,74),至少一部分第一栅极面向由多晶硅形成的鳍状物,并且至少一部分第二栅极面向金属硅化物形成的鳍状物。两个栅极的不同成分提供各个不同的功函数以减小短沟道效应。
申请公布号 CN101385150A 申请公布日期 2009.03.11
申请号 CN200780005193.8 申请日期 2007.02.02
申请人 NXP股份有限公司 发明人 马克·范达尔;拉杜·苏尔代亚努
分类号 H01L29/786(2006.01)I;H01L29/423(2006.01)I;H01L29/49(2006.01)I 主分类号 H01L29/786(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 朱进桂
主权项 1、一种半导体器件,所述器件包括:半导体材料的鳍状物(20),位于绝缘衬底(12)上;第一栅极(72),通过栅极电介质层(30)与鳍状物的第一边分离,所述第一栅极的至少一部分面向由多晶硅形成的鳍状物;以及第二栅极(74),通过栅极电介质层(32)从鳍状物的与第一边相对的第二边分离,所述第二栅极的至少一部分面向由金属硅化物形成的鳍状物。
地址 荷兰艾恩德霍芬