X射线衍射样品架的制备方法

摘要

一种用于材料分析测试技术领域的X射线衍射样品架的制备方法，具体步骤如下：(1)材料选择：样品架选择单晶材料，利用晶体分析仪及劳厄衍射技术确定单晶的密排晶体学平面；(2)切割单晶样品架毛坯：与单晶密排晶体学面偏离角度，切割出单晶片以及样品架毛坯；(3)化学腐蚀样品座：利用氢氟酸溶液，腐蚀样品架毛坯表面，腐蚀出凹坑，同时利用隔绝材料聚乙烯，将样品座以外区域与腐蚀溶液隔绝；(4)单晶样品架与金属片粘结：利用环氧树脂，将单晶样品架与金属片进行复合，获得X射线衍射样品架。本发明所制备的X射线衍射样品架，用于X射线衍射系统，对被测样品衍射信息不产生任何干扰，提高测量结果的可靠性，克服容易脆裂的缺点，延长其使用寿命。

主权项

1、一种X射线衍射样品架的制备方法，其特征在于，具体步骤如下：(1)材料选择：样品架选择单晶材料，利用晶体分析仪及劳厄衍射技术确定单晶的密排晶体学平面；(2)切割单晶样品架毛坯：与单晶密排晶体学面偏离角度，切割出单晶片以及样品架毛坯，所述的角度是3°—10°；(3)化学腐蚀样品座：利用氢氟酸溶液，腐蚀样品架毛坯表面，腐蚀出凹坑即样品座，同时利用隔绝材料聚乙烯，将样品座以外区域与腐蚀溶液隔绝；(4)单晶样品架与金属片粘结：利用环氧树脂，将单晶样品架与金属片进行复合，获得X射线衍射样品架。