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Método de análisis de punto de cobertura funcional (FCP - "functional coverage point"), en una realización descrita, el método comprende analizar datos de punto de cobertura funcional (110, 304) procedentes de un procedimiento (102) de simulación de circuito integrado, a fin de determinar la ocurrencia de un primer suceso en un primer punto de cobertura (210) y de un segundo suceso en un segundo punto de cobertura (214). El método analiza adicionalmente datos (306) de relación de puntos de cobertura funcional para determinar una relación (212) entre el primer punto de cobertura (210) y el segundo punto de cobertura (214). Además, se genera (308) un informe (116) de análisis de relación de puntos de cobertura funcional, que indica si existe la relación entre el primer punto de cobertura (210) y el segundo punto de cobertura (214).
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