侦测记忆体元件中字元线漏电的装置及方法

摘要

一种侦测记忆体元件中字元线漏电的方法，其包括耦接记忆体元件中多条第一字元线至一电压源，并将多条第二字元线接地，其中各条第二字元线系毗邻于此些第一字元线。此方法包括等待一预定时间，使此些第一字元线得以达到预定读取电压位准，再将此些第一字元线与电压源分离，并等待一第二预定时间，使此些第一字元线得以放电。此方法更包括侦测对应此些第一字元线之记忆体元件电流，并将此电流与一预定参考电流进行比较，此预定参考电流是用来监别对应此些第一字元线之漏电状态。