发明名称 |
用于将缺陷分类并进行积层滚筒研磨之方法 |
摘要 |
本发明揭示一种用于将缺陷分类并进行积层滚筒研磨之方法(100),其包含以下组成之阶段:a)在描述滚筒之多个表面测量的地图中辨识缺陷区域;b)计算辨识之各缺陷区域的多个典型参数;c)根据该计算之参数辨识该辨识之缺陷区域带有之缺陷的型式;d)决定(120)辨识之各型缺陷的指定缺陷之接受力低限值;e)根据该缺陷区域之缺陷型式带有之该接受力低限值、与该缺陷区域带有之该滚筒之多个表面测量的测量间之比较,而界定(130)各缺陷之修正动作;f)如果阶段c)界定之修正动作为去除缺陷之研磨操作,则根据该滚筒之该表面测量决定(140)研磨参数。 |
申请公布号 |
TW200909086 |
申请公布日期 |
2009.03.01 |
申请号 |
TW097126902 |
申请日期 |
2008.07.16 |
申请人 |
提诺瓦股份有限公司 |
发明人 |
乔凡尼桂多玛利亚巴维利;乔凡尼波瑟利;安德鲁托诺尼;克劳狄欧崔威参;威廉希尔;保罗舒玛契尔 |
分类号 |
B21B28/02(2006.01);B21B38/12(2006.01) |
主分类号 |
B21B28/02(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
何金涂;王彦评 |
主权项 |
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地址 |
义大利 |