发明名称 用于将缺陷分类并进行积层滚筒研磨之方法
摘要 本发明揭示一种用于将缺陷分类并进行积层滚筒研磨之方法(100),其包含以下组成之阶段:a)在描述滚筒之多个表面测量的地图中辨识缺陷区域;b)计算辨识之各缺陷区域的多个典型参数;c)根据该计算之参数辨识该辨识之缺陷区域带有之缺陷的型式;d)决定(120)辨识之各型缺陷的指定缺陷之接受力低限值;e)根据该缺陷区域之缺陷型式带有之该接受力低限值、与该缺陷区域带有之该滚筒之多个表面测量的测量间之比较,而界定(130)各缺陷之修正动作;f)如果阶段c)界定之修正动作为去除缺陷之研磨操作,则根据该滚筒之该表面测量决定(140)研磨参数。
申请公布号 TW200909086 申请公布日期 2009.03.01
申请号 TW097126902 申请日期 2008.07.16
申请人 提诺瓦股份有限公司 发明人 乔凡尼桂多玛利亚巴维利;乔凡尼波瑟利;安德鲁托诺尼;克劳狄欧崔威参;威廉希尔;保罗舒玛契尔
分类号 B21B28/02(2006.01);B21B38/12(2006.01) 主分类号 B21B28/02(2006.01)
代理机构 代理人 何金涂;王彦评
主权项
地址 义大利