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发明名称 Verfahren und Vorrichtung zum Diagnostizieren eines Zellendefekts eines PDP-Moduls
摘要
申请公布号 DE10315470(B4) 申请公布日期 2009.02.26
申请号 DE2003115470 申请日期 2003.04.04
申请人 LG ELECTRONICS INC. 发明人 PARK, SU WON;HEO, SO HEE
分类号 H01J9/42;G09G3/00;H01J17/49;H04N17/04 主分类号 H01J9/42
代理机构 代理人
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