发明名称 Verfahren zur Kompatibilitätsprüfung eines Meßsystems bestehend aus einem Messumformer und einem Sensor
摘要 Bei einem Verfahren zur Kompatibilitätsprüfung eines Messsystems, bestehend aus einem Messumformer MU und einem Sensor S, wird für einen im Messumformignatur S1 extern erstellt. Nach der Übertragung des Kenndatensatzes KDS vom Messumformer MU an den Sensor S wird eine zweite Signatur S1' für den Kenndatensatz KDS im Sensor S berechnet. Stimmen die Signaturen S1 und S1' überein, so sind der Messumformer MU und der Sensor S kompatibel und der Messumformer MU kann auf Daten und/oder Funktionen des Sensors S zugreifen.
申请公布号 DE102007039530(A1) 申请公布日期 2009.02.26
申请号 DE20071039530 申请日期 2007.08.21
申请人 ENDRESS + HAUSER CONDUCTA GESELLSCHAFT FUER MES- UND REGELTECHNIK MBH + CO. KG 发明人 WITTMER, DETLEV;WEISS, REINHARD
分类号 G01D21/00 主分类号 G01D21/00
代理机构 代理人
主权项
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