发明名称 晶圆级封装结构及其制作方法
摘要 本发明涉及一种晶圆级封装结构,包括一芯片、多个球底金属层以及多个聚合物凸块。芯片具有多个焊垫以及一保护层,其中保护层具有多个第一开口以将焊垫暴露。球底金属层覆盖保护层所暴露出的焊垫。聚合物凸块配置于球底金属层上,其中各聚合物凸块包括一聚合物层、至少一导电柱以及一接合层。聚合物层具有至少一贯孔,而导电柱配置于贯孔中,且接合层覆盖导电柱,并通过导电柱与对应的焊垫电性连接。本发明可以提高芯片封装体与载板间的电性连接的可靠度。
申请公布号 CN101373748A 申请公布日期 2009.02.25
申请号 CN200710045056.9 申请日期 2007.08.20
申请人 宏茂微电子(上海)有限公司 发明人 马俊;赖金榜
分类号 H01L23/485(2006.01);H01L21/60(2006.01) 主分类号 H01L23/485(2006.01)
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 代理人 左一平
主权项 1.一种晶圆级封装结构,其特征在于包括:一芯片,具有多个焊垫以及一保护层,其中该保护层具有多个第一开口以将该些焊垫暴露;多个球底金属层,覆盖该保护层所暴露出的该些焊垫;多个聚合物凸块,配置于该些球底金属层上,各该些聚合物凸块包括:一聚合物层,具有至少一贯孔;至少一导电柱,配置于该贯孔中;以及一接合层,覆盖该导电柱,且该接合层通过该导电柱与对应的该焊垫电性连接。
地址 200000上海市青浦工业区崧泽大道9688号