Untersuchung molekularer Wechselwirkungen an und/oder in dünnen Schichten

摘要

Beschrieben werden ein Träger für eine dünne Schicht und ein Verfahren zur Untersuchung molekularer Wechselwirkungen an und/oder in einer solchen dünnen Schicht. Gemäß dem Verfahren wird eine auf einem Träger angeordnete dünne Schicht mit elektromagnetischer Strahlung von mindestens einer Strahlungsquelle beleuchtet und ein an Begrenzungsflächen der dünnen Schicht reflektierter Strahlungsanteil mittels mindestens eines optoelektronischen Wandlers erfasst, der die erfasste Strahlung in einen frequenz- und intensitätsabhängigen Photostrom umwandelt. An den optoelektronischen Wandler wird eine Auslesespannung angelegt. Die spektrale Empfindlichkeit des optoelektronischen Wandlers wird durch Veränderung der Auslesespannung variiert, so dass ein im Wesentlichen konstanter Photostrom erhalten wird. Alternativ oder zusätzlich zur Variation der spektralen Empfindlichkeit durch Änderung der Auslesespannung wird der reflektierte Strahlungsanteil mit einem optoelektronischen Wandler erfasst, der als Sensorschicht in dem Träger ausgebildet ist. Der beschriebene Träger zeichnet sich insbesondere dadurch aus, dass er ein Substrat aufweist, auf dem mindestens eine Sensorschicht mit optoelektronischen Eigenschaften angeordnet ist.