发明名称 Koordinaten-Messmaschine und Verfahren zur Korrektur von Nichtlinearitäten der Interferometer einer Koordinaten-Messmaschine
摘要 Es sind ein Verfahren und eine Koordinaten-Messmaschine (1) offenbart, womit die Nichtlinearitäten eines Interferometers (24) korrigiert werden können. Zur Messung ist in einer Ebene (25a) ein verfahrbarer Messtisch (20) vorgesehen. Das Substrat (2) ist auf den Messtisch (20) gelegt; wobei die Position des Messtisches (20) entlang einer jeder der Bewegungsachsen mit jeweils mindestens einem Interferometer (24) bestimmt wird. Ein Rechner (16) ist vorgesehen, der die einem jeden Interferometer (24) innewohnende Nichtlinearität kompensiert, wobei die durch die Interferometer (24) zu bestimmende Position des Messtisches (20) entlang einer Bewegungskurve (52, 60, 67) des Messtisches (20) angeordnet ist, die zumindest teilweise aus Komponenten der Achsen zusammengesetzt sind.
申请公布号 DE102007036850(A1) 申请公布日期 2009.02.19
申请号 DE20071036850 申请日期 2007.08.06
申请人 VISTEC SEMICONDUCTOR SYSTEMS GMBH 发明人 HEIDEN, MICHAEL
分类号 G01B11/03 主分类号 G01B11/03
代理机构 代理人
主权项
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