用于调试可编程芯片的装置及现场可编程门阵列芯片

摘要

本发明涉及一种用于调试可编程芯片的装置及现场可编程门阵列芯片，装置包括：与所述可编程芯片外部的调试主机相连的物理层、译码操作模块、编码操作模块、命令操作模块及用于为所述命令操作模块提供获取信号状态信息的接口的调试接口。现场可编程门阵列芯片包括上述用于调试可编程芯片的装置及调试接口。本发明还涉及一种复杂可编程逻辑器件芯片，包括上述用于调试可编程芯片的装置及调试接口。上述方案中，用于调试可编程芯片的装置结构简单，且无需耗费硬件资源，大大降低了复杂度，便于在低端可编程芯片中实现，大大提高了调试装置的通用性。

主权项

1.一种用于调试可编程芯片的装置，其特征在于，包括：物理层，与所述可编程芯片外部的调试主机相连，用于与所述调试主机进行命令数据交互；译码操作模块，用于对所述物理层接收到的命令数据进行译码；编码操作模块，用于将包含信号状态信息的命令信息组合成命令数据，通过所述物理层发送给所述调试主机；命令操作模块，用于根据所述译码操作模块译码得到的命令信息执行调试操作，获取信号的状态信息，并将所述包含信号状态信息的命令信息发送给所述编码操作模块；调试接口，用于为所述命令操作模块提供获取信号状态信息的接口。