发明名称 氮化物系半导体层积构造以及半导体光元件与其制造方法
摘要 本发明的氮化物系半导体积层构造,因为包括:基板及p型氮化物系半导体层(其系配设于该基板上,且使用有机金属化合物的III族原料、含有氨与联氨衍生物的V族原料、及p型杂质原料所形成,且含有的碳浓度在1×10#sP!18#eP!cm#sP!-3#eP!以下),因此将可构成含有低电阻值p型氮化物系半导体层,且动作效率佳的氮化物系半导体积层构造。
申请公布号 TW200908492 申请公布日期 2009.02.16
申请号 TW097121688 申请日期 2008.06.11
申请人 三菱电机股份有限公司 发明人 大野彰仁;竹见政义;田信之
分类号 H01S5/18(2006.01) 主分类号 H01S5/18(2006.01)
代理机构 代理人 洪澄文
主权项
地址 日本