发明名称 晶圆端面检查装置
摘要 用以照明晶圆之照明光学系统有两种类。一为周知之落射照明光学系统,其系使在照明光学系统6产生之照明光在半反射镜反射而偏向,通过成像光学系统4之一部分而照明晶圆1。另一者则正对晶圆1之端面配置,自倾斜方向扩散照明晶圆1的扩散照明光学系统7。扩散照明光学系统7系例如于基板上多数排列有LED11者之表面配置有扩散板12的面光源,系可自宽广区域以各种角度照明斜面部3。可藉由同时使用两种类之照明系统同时照明晶圆表面外周部2与表面斜面部3,而能同时检测出存在于晶圆表面外周部2与表面斜面部3两者的缺陷。
申请公布号 TW200907335 申请公布日期 2009.02.16
申请号 TW097118444 申请日期 2008.05.20
申请人 尼康股份有限公司 发明人 持田大作;渡部贵志;口直史;远藤一正
分类号 G01N21/95(2006.01);H01L21/66(2006.01) 主分类号 G01N21/95(2006.01)
代理机构 代理人 桂齐恒;阎启泰
主权项
地址 日本