发明名称 曝光设备,控制曝光设备的方法,及装置制造方法
摘要 一种曝光设备包括:一光学系统支座,支撑一投影光学系统;一载台平板;一第1载台及第2载台;一第1干涉仪,构成测量于一第1区域中载台之位置;一第2干涉仪,构成测量于一第2区域中载台之位置;一第3干涉仪,插入第1干涉仪与第2干涉仪之间;一间隙感测器,构成测量光学系统支座与载台平板间之一间隙;以及一控制单元,构成于调换时,使用第3干涉仪所获得的测量结果,将第1干涉仪及第2干涉仪之一所获得的测量结果转换至第1干涉仪及第2干涉仪之另一个,并根据间隙感测器所获得的测量结果,校正所转换测量结果。
申请公布号 TW200907291 申请公布日期 2009.02.16
申请号 TW097113681 申请日期 2008.04.15
申请人 佳能股份有限公司 发明人 黑野泰友
分类号 G01B11/02(2006.01);G03F7/20(2006.01);H01L21/027(2006.01) 主分类号 G01B11/02(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本