发明名称 |
具有测试模式激活的磁阻传感器 |
摘要 |
特别是在汽车应用中,包括几何泄漏移位传感器元件的传感器系统必须符合关于质量、精度和安全性的特性和要求。为此,必须对传感器进行测试和微调。根据本发明的一个典型实施例,提供一种磁阻传感器,允许通过对该传感器施加均匀磁场而测试和微调该传感器。有利地,这样可以提供一种具有简单结构的磁阻传感器。 |
申请公布号 |
CN100460820C |
申请公布日期 |
2009.02.11 |
申请号 |
CN200580008752.1 |
申请日期 |
2005.03.04 |
申请人 |
皇家飞利浦电子股份有限公司 |
发明人 |
M·欣茨 |
分类号 |
G01D5/16(2006.01);G01D18/00(2006.01) |
主分类号 |
G01D5/16(2006.01) |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 |
代理人 |
王波波 |
主权项 |
1.磁阻传感器,包括:第一多个第一磁阻元件(2,6,10,12,18,20);第二多个第二磁阻元件(4,8,14,16,22,24);第一信号处理单元(30,32,34),其连接在该第一多个第一磁阻元件(2,6,10,12,18,20)以生成第一输出信号;其中该第一输出信号具有第一相位;第二信号处理单元(40,42,46),其连接到该第二多个第二磁阻元件(4,8,14,16,22,24)以生成第二输出信号;其中该第二输出信号具有第二相位;其中该传感器具有工作模式和测试模式;第三信号处理单元(36,38),用于处理该第一和第二输出信号;其中该第三信号处理单元(36,38)适应于基于该第一和第二输出信号激活该工作模式和测试模式之一;以及其中当该第一多个第一磁阻元件和第二多个第二磁阻元件暴露于均匀磁场时,第三信号处理单元(36,38)适应于激活该测试模式。 |
地址 |
荷兰艾恩德霍芬 |