一种对FPGA器件进行测试的方法

摘要

本发明公开了一种对FPGA器件进行测试的方法，包括如下的步骤：(1)生成为FPGA器件配置预定功能的配置文件；(2)使FPGA器件进入配置阶段；(3)从配置文件中提取配置信息并进行数据转换，得到预定管脚的配置数据信号；(4)设置FPGA器件各控制管脚的逻辑状态，并设置各管脚的时序信息，得到配置过程的测试向量；(5)根据各个管脚的时序信息设置各个管脚信号变化的时间，得出测试图形；(6)执行测试图形，完成测试工作。利用本发明，可以使用现有的集成电路测试机完成对FPGA器件的测试，不仅减少了操作环节，而且提高FPGA器件的测试效率，便于实现FPGA器件的产业化测试。

主权项

1.一种对FPGA器件进行测试的方法，基于集成电路测试机实现，其特征在于包括如下的步骤：(1)使用FPGA器件设计工具生成为FPGA器件配置预定功能的配置文件；(2)所述集成电路测试机使所述FPGA器件进入配置阶段；(3)从所述配置文件中提取配置信息并进行数据转换，得到预定管脚的配置数据信号；(4)设置所述FPGA器件各控制管脚的逻辑状态，并设置各管脚的时序信息，得到配置过程的测试向量；(5)根据各个管脚的时序信息设置各个管脚信号变化的时间，得出测试图形；(6)所述集成电路测试机执行所述测试图形，完成对所述FPGA器件是否实现预定功能的测试工作。