发明名称 |
浸润式光刻的方法及其处理方法 |
摘要 |
本发明提供一种浸润式光刻的方法及其处理方法,包括:提供一光致抗蚀剂层在半导体基底上,以及使用浸润式光刻曝光系统曝光该光致抗蚀剂层。该浸润式光刻曝光系统在曝光时使用液体,并可在曝光后去除一些但不是全部的液体;曝光后,使用一处理步骤以中和在浸润式曝光过程中,一些不希望的元素扩散至光致抗蚀剂层所产生的效应;经过处理后,进行曝后烤及显影步骤。本发明所述浸润式光刻的方法及其处理方法,可在光致抗蚀剂上产生想要的图案并减少缺陷。 |
申请公布号 |
CN100461004C |
申请公布日期 |
2009.02.11 |
申请号 |
CN200610109531.X |
申请日期 |
2006.08.04 |
申请人 |
台湾积体电路制造股份有限公司 |
发明人 |
张庆裕;游大庆 |
分类号 |
G03F7/20(2006.01);H01L21/027(2006.01) |
主分类号 |
G03F7/20(2006.01) |
代理机构 |
北京林达刘知识产权代理事务所 |
代理人 |
刘新宇 |
主权项 |
1.一种浸润式光刻的方法,所述浸润式光刻的方法包括:提供一光致抗蚀剂层在一半导体基底上;使用一浸润式光刻曝光系统曝光该光致抗蚀剂层,该浸润式光刻曝光系统在曝光时使用一液体;在曝光后及曝后烤前对该光致抗蚀剂层进行一处理步骤,用以中和从该液体扩散至该光致抗蚀剂层的一捕捉剂;曝后烤该光致抗蚀剂层;以及显影该曝光的光致抗蚀剂层。 |
地址 |
台湾省新竹科学工业园区新竹市力行六路八号 |