| 发明名称 | 用于确定非线性特性的方法和装置 | ||
| 摘要 | 本发明涉及用于确定被测设备(40)的非线性特性的方法和装置，其中在不同终端条件下由相关设备终端上的测试信号激励所述设备(40)。然后，采用了已知阻抗和线性度的校准标准的校准测量被执行以导出这样的参数，所述参数是针对电缆损耗及延迟和针对测量系统的非线性特性的对通过所述测量读取的原始数据进行修正所需的参数。最后，从在不同激励和终端条件下得到的经误差修正后的测量值中提取非线性的散射或导纳参数。从而，非线性特性可以被更准确地描述、建模和理解。 | ||
| 申请公布号 | CN101365953A | 申请公布日期 | 2009.02.11 |
| 申请号 | CN200780002071.3 | 申请日期 | 2007.01.05 |
| 申请人 | NXP股份有限公司 | 发明人 | 卢卡斯·F·蒂迈吉尔 |
| 分类号 | G01R27/28(2006.01) | 主分类号 | G01R27/28(2006.01) |
| 代理机构 | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 | 代理人 | 陈源;张天舒 |
| 主权项 | 1.一种用于确定被测设备(40)的非线性特性的方法，所述方法包括步骤：-在不同终端条件下在所述设备(40)的相关终端处将测试信号供给所述设备(40)；-在所述测试信号的基频和至少一个谐频处测量在所述设备(40)的所述相关终端处得到的信号；-执行校准测量以得到修正参数；-使用所述修正参数以针对由所述测试设备(40)不会导致的结果来修正在所述测量步骤b)中测得的原始数据；和-从所述被修正的原始数据中提取散射或导纳参数中的至少一个，并使用所述被提取的参数来确定所述设备(40)的所述非线性特性。 | ||
| 地址 | 荷兰艾恩德霍芬 | ||