发明名称 一种采用硬件逻辑对IC设计进行验证的方法
摘要 一种采用硬件逻辑对IC设计进行验证的方法,应用于包括依次相连的逻辑分析仪、硬件逻辑和外部存储器的系统,该方法包含以下步骤:(a)标识需要检测的信号,并给定采样时钟和采样深度,生成用于完成对待测信号的采样和数据传输功能的测试代码;(b)将待测试的功能代码和所述测试代码一起进行逻辑综合和布线,生成配置文件,并下载到硬件逻辑;(c)向硬件逻辑输入激励信号并启动测试过程,对待测信号进行采样,将采样到的数据存储到外部存储器,采样结束后再上传到逻辑分析仪;(d)采样结束后,从所述外部存储器读取保存的采样数据,通过与逻辑分析仪的接口上传至逻辑分析仪进行后续的分析和处理。
申请公布号 CN100458731C 申请公布日期 2009.02.04
申请号 CN200710063841.7 申请日期 2007.02.12
申请人 北京中星微电子有限公司 发明人 杨作兴
分类号 G06F11/36(2006.01) 主分类号 G06F11/36(2006.01)
代理机构 北京安信方达知识产权代理有限公司 代理人 龙洪;霍育栋
主权项 1、一种采用硬件逻辑对IC设计进行验证的方法,应用于包括依次相连的逻辑分析仪、硬件逻辑和外部存储器的系统,该方法包含以下步骤:(a)标识需要检测的信号,并给定采样时钟和采样深度,生成用于完成对待检测信号进行采样和对采样得到的采样数据进行传输的测试代码;(b)将待测试的功能代码和所述测试代码一起进行逻辑综合和布线,生成配置文件,并下载到硬件逻辑;(c)向硬件逻辑输入激励信号并启动测试过程,对待检测信号进行采样,将采样得到的采样数据传输到外部存储器进行存储;(d)采样结束后,将存储在所述外部存储器的采样数据通过与逻辑分析仪的接口传输至逻辑分析仪进行后续的分析和处理。
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