| 发明名称 | 一种X射线光栅相衬成像系统 | ||
| 摘要 | 本实用新型提供一种X射线光栅相衬成像系统，用于对物体进行检测，包括：X射线发射装置，用于向被检测物体发射X射线；第一和第二吸收光栅，二者平行地依次位于X射线方向上，被检测物体折射的X射线经由该第一和/或第二吸收光栅形成强度变化的X射线信号，其中该X射线信号包含被折射X射线的折射角信息；检测单元，用于接收强度变化的X射线，并将X射线信号转换为电信号；以及数据处理单元用于从检测单元接收电信号，提取该电信号中折射角信息，并根据折射角信息利用预定算法来重构物体内部的折射率分布的断层图像。通过本实用新型，可以摆脱对射线源相干性的依赖，没有Tablot距离的限制，能使用十微米量级以上周期的光栅实现近分米量级视场的相衬成像。 | ||
| 申请公布号 | CN201191275Y | 申请公布日期 | 2009.02.04 |
| 申请号 | CN200720190341.5 | 申请日期 | 2007.11.23 |
| 申请人 | 同方威视技术股份有限公司;清华大学 | 发明人 | 康克军;黄志峰;张丽;陈志强;李元景;刘以农;赵自然;刑宇翔 |
| 分类号 | G01N23/04(2006.01);G21K1/06(2006.01);G02B27/52(2006.01) | 主分类号 | G01N23/04(2006.01) |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 龚海军;谭祐祥 |
| 主权项 | 1.一种X射线光栅相衬成像系统，用于对物体进行检测，特征在于，该系统包括：X射线发射装置，用于向被检测物体发射X射线；第一和第二吸收光栅，二者平行地依次位于X射线方向上，被检测物体折射的X射线经由该第一和/或第二吸收光栅形成强度变化的X射线信号，其中该X射线信号包含被折射X射线的折射角信息；检测单元，用于接收所述强度变化的X射线，并将X射线信号转换为电信号；以及数据处理单元用于从所述检测单元接收所述电信号，提取该电信号中折射角信息，并根据所述折射角信息利用预定算法来重构物体内部的折射率分布的断层图像。 | ||
| 地址 | 100084北京市海淀区双清路同方大厦A座2层 | ||