发明名称 一种ZnO/MgB<SUB>2</SUB>异质结材料及制备方法
摘要 本发明涉及ZnO/MgB<SUB>2</SUB>异质结材料和制法,该材料包括在衬底上长10纳米~10微米厚二硼化镁膜,在其上长10纳米~10微米厚ZnO膜。采用常规制薄膜工艺制备先驱MgB<SUB>2</SUB>薄膜,将MgB<SUB>2</SUB>先驱硼膜和0.1~3.0克的镁封闭在石英管中抽真空封闭,放在马弗炉中烧结得到MgB<SUB>2</SUB>薄膜;把MgB<SUB>2</SUB>薄膜和氧化锌靶安装在脉冲激光沉积设备真空室内,在真空度1×10<SUP>-3</SUP>~5×10<SUP>-8</SUP>Pa以上,温度为150℃-600℃下;用能量为120毫焦至450毫焦的准分子脉冲激光聚焦到氧化锌靶或者掺杂氧化锌靶上,进行沉积得到ZnO/MgB<SUB>2</SUB>异质结。所制备异质结可以用作远红外至可见光至紫外光的探测器。
申请公布号 CN100459179C 申请公布日期 2009.02.04
申请号 CN200510107826.9 申请日期 2005.09.30
申请人 中国科学院物理研究所 发明人 赵嵩卿;周岳亮;赵昆;刘震;王淑芳;韩鹏;陈正豪;吕惠宾;程波林;何萌;杨国桢
分类号 H01L31/109(2006.01);H01L31/18(2006.01) 主分类号 H01L31/109(2006.01)
代理机构 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 代理人 高存秀
主权项 1.一种ZnO/MgB2异质结材料,包括在衬底上生长一层MgB2膜,其特征在于,在MgB2膜上生长一层ZnO膜,其中MgB2膜厚度在10纳米~10微米;ZnO膜厚度在10纳米~10微米。
地址 100080北京市海淀区中关村南三街8号