发明名称 X射线散射校正
摘要 在锥形束体积计算断层摄影或其他类似成像技术中,通过使用一个束补偿滤波器(蝴蝶结滤波器)(610),空气隙(G)技术,一个反散射栅格(612)降低x射线散射效应,通过使用一个束截捕器阵列(beam stop array)(602)联系插值卷积运算来校正x射线散射效应。在有束截捕器阵列(602)时拍摄图像,在没有束截捕器阵列(602)时拍摄大量的图像。对有束截捕器阵列(602)时拍摄的图像空间插值导出散射信息,然后对没有束截捕器阵列(602)时拍摄的图像进行角插值以提供尽量多的散射信息。通过三次样条函数插值或其他任何技术或低通滤波运算(以给定的卷积核进行卷积运算)进行插值。从相对应的没有束截捕器阵列(602)时拍摄的图像中每一个减去每一个散射图像,从而提供了一个散射-校正图像序列。
申请公布号 CN100457039C 申请公布日期 2009.02.04
申请号 CN03804321.1 申请日期 2003.02.21
申请人 罗切斯特大学 发明人 劳拉·宁
分类号 A61B6/03(2006.01) 主分类号 A61B6/03(2006.01)
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人 秦晨
主权项 1.一种用于对对象进行成像并对散射校正的系统,该系统包括:成像辐射源;束补偿滤波器,该束补偿滤波器位于所述成像辐射源和对象之间;用于成像辐射的探测器,探测器的放置使对象和探测器之间留有空气隙;反散射栅格,该反散射栅格在选定时间放置于所述对象和探测器之间;在选定时间放置的束截捕器阵列,放置在成像辐射源和探测器之间的成像辐射路径上;用于围绕对象旋转的门架;用于控制门架、成像辐射源和探测器的控制设备,用于:(i)使用成像辐射源、束补偿滤波器、探测器、束截捕器阵列、对象和探测器之间的空气隙和反散射栅格在选定的不同投影角下拍摄对象的第一图像序列时,控制成像辐射源和探测器围绕对象旋转,第一图像序列的每一个图像含有在选定的不同投影角下要恢复的散射分布的空间采样,第一图像序列包括N’个图像;(ii)使用成像辐射源、束补偿滤波器、反散射栅格和探测器而不使用束截捕器阵列,在不同的投影角下拍摄对象的第二图像序列时,控制成像辐射源和探测器围绕对象旋转,第二图像序列的每一个图像含有在一投影角下的初始分布和散射分布,第二图像序列包括N个图像,N≥N’;以及图像处理设备,接收探测器的输出信号,用于:(i)在对象的第一图像序列上进行投影角插值,得到一个散射图像序列,该散射图像序列包括N个图像,每一个对应于第二图像序列中N个图像中的一个;以及(ii)得到一个初始图像序列,该初始图像序列包括N个图像,每一个根据第二图像序列的N个图像中对应的一个以及散射图像序列的N个图像中对应的一个而形成。
地址 美国纽约州