| 发明名称 | 微电子器件恒定加速度的检测方法 | ||
| 摘要 | 本发明为微电子器件恒定加速度的测验方法。通过该方法测定电子器件恒定加速度时对电子器件用力均匀，器件受伤的机率小。其特征在于：在直贴式夹具的底部铺一些细砂，然后在砂的上面铺橡胶薄膜，待检测的器件帖于薄膜并与薄膜固定，再将夹具安装于离心机进行试验。 | ||
| 申请公布号 | CN101358991A | 申请公布日期 | 2009.02.04 |
| 申请号 | CN200710025509.1 | 申请日期 | 2007.08.01 |
| 申请人 | 中国电子科技集团公司第五十八研究所 | 发明人 | 朱卫良 |
| 分类号 | G01P15/02(2006.01) | 主分类号 | G01P15/02(2006.01) |
| 代理机构 | 无锡盛阳专利商标事务所（普通合伙） | 代理人 | 顾吉云 |
| 主权项 | 1、微电子器件恒定加速度的检测方法，其特征在于：在直贴式夹具的底部铺一些细砂，然后在砂的上面铺橡胶薄膜，待检测的器件帖于薄膜并与薄膜固定，再将夹具安装于离心机进行试验。 | ||
| 地址 | 214028江苏省无锡市新区信息产业科技园 | ||